揭秘顆粒表征方法的LOD

檢測(cè)限 (LOD, Limit of Detection) 是指分析方法能夠可靠檢測(cè)到的最小物質(zhì)濃度或數(shù)量，代表著方法的靈敏度。對(duì)于藥物遞送和納米載藥系統(tǒng)，準(zhǔn)確報(bào)告LOD不僅幫助確定檢測(cè)方法的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，還關(guān)系到低濃度顆粒的檢測(cè)、監(jiān)管合規(guī)性（進(jìn)行藥品申報(bào)或質(zhì)量控制時(shí)，監(jiān)管機(jī)構(gòu)如FDA、EMA等通常要求詳細(xì)報(bào)告顆粒表征方法的LOD）、方法驗(yàn)證，以及科研成果的可信度。

電阻脈沖感應(yīng)（RPS) 方法可以表示確定的LOD

電阻脈沖感應(yīng)（RPS，Resistive Pulse Sensing）方法在納米顆粒的粒徑和濃度表征中均可以給出確定的LOD。RPS通過(guò)檢測(cè)單個(gè)顆粒通過(guò)微孔時(shí)引起的電阻變化來(lái)測(cè)量顆粒的尺寸和數(shù)量。因?yàn)樗菃晤w粒檢測(cè)方法，RPS在某些條件下可以提供非常低的檢測(cè)限，尤其適合檢測(cè)稀釋樣品中的低濃度顆粒。LOD通常與微孔或納米孔的大小和樣品中的噪聲水平相關(guān)聯(lián)。

依賴(lài)孔徑大?。?/p>

LOD通常與微孔的大小和樣品中的噪聲水平相關(guān)聯(lián)。較小的孔徑可以檢測(cè)到較小的顆粒，但同時(shí)也可能增加背景噪聲，從而影響LOD的準(zhǔn)確性。

依賴(lài)噪聲水平：

樣品的電導(dǎo)性、孔道的表面特性以及背景電流的穩(wěn)定性都會(huì)影響檢測(cè)限。如果背景噪聲低，RPS可以檢測(cè)到非常小且低濃度的顆粒，從而實(shí)現(xiàn)較低的LOD。

一般來(lái)說(shuō)，如果在RPS測(cè)試實(shí)驗(yàn)中能夠?qū)Ρ尘霸肼曔M(jìn)行良好控制，并選擇合適的孔徑和測(cè)量條件，那么可以實(shí)現(xiàn)較低的LOD。這使得RPS技術(shù)在某些領(lǐng)域（如檢測(cè)稀釋的生物顆粒或納米顆粒）中具有顯著優(yōu)勢(shì)。

瑞芯智造NanoCoulter納米庫(kù)爾特粒度儀作為RPS技術(shù)應(yīng)用，打破光學(xué)原理的局限性，經(jīng)過(guò)十余年微納加工技術(shù)沉淀，shou創(chuàng)光刻硅基固體納米孔芯片，將經(jīng)典庫(kù)爾特技術(shù)的粒徑檢測(cè)范圍從微米級(jí)下探至納米級(jí)。同時(shí)依賴(lài)高靈敏皮安級(jí)電流檢測(cè)和信號(hào)噪音的分析處理可精準(zhǔn)降噪分析每個(gè)過(guò)孔顆粒，真正意義上的單顆粒檢測(cè)，可精確分析粒徑分布廣的多分散樣本，具備更寬的粒徑LOD (15-2000 nm) 和極寬的濃度LOD (10⁶-10¹² particles/mL)。